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GBT 30542-2014 文件管理 130mm光盘存储信息的监测和验证PDF文本

ICS37.080A14中华人民共和国国家标准GB/T30542-2014文件管理130mm光盘存储信息的监测和验证筑Document management?SCMonitoring and verification of information stored on 130 mm optical media(ISO23868:2008,MOD)2014-05-06发布2014-11-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会罚素村网J.ET
GB/T30542-2014前言本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本标准使用重新起草法修改采用IS023868:2008《文件管理130mm光盘存储信息的监测和验证》（英文版）。本标准与1S023868:2008的技术差异如下：—以修改采用国际标准的GB/T20225-2006《电子成像词汇》代替了IS012651.本标准与1S023868:2008相比，做了以下编辑性修改：一重新编写了前言：一在“范围”一章中，增加了标准适用性的表述：—修正了附录A中的一个编辑性错误（将相对湿度3%改为30%）。本标准由全国文献影像技术标准化技术委员会(SAC/TC86)提出并归。本标准由全国文献影像技术标准化技术委员会一分会起草。本标准主要起草人：刘巧平、李铭。本标准为首次发布。筑Z.ZC.ET
GB/T30542-2014引言现在很多组织机构都用光盘来进行信息的长期存储。其前提是，假定已经证明选择用于记录的光盘对于该用途是合格的。因此，重要的是能够验证数据已经正确地记录下来，并且在要求的期限内保持可读。以前的国际标准明确地规定了对交换性的要求，以及预测光盘寿命的方法，但没有包含写人数据质量的验证方法。寿命既受介质衰变也受技术过时的限制。需要定期地对交换性进行验证，以保持信息在现有的记录介质上可恢复。用户能够采取某种维护策略，例如制作一个存档的副本、一个作为备份或母版的副本以及一个供日常存取用的副本，以防止盘片出现意外故障或被意外使用。硬件支持生命周期通常为5年一10年，技术生命周期通常为20年。因此，要求具有更长寿命周期的记录，就有可能不得不每10年~20年就转移到经过升级的平台上。议对长期存储用的光盘予以评估。不同介质制造厂家生产的盘片之间，甚至同一介质制造厂家生产的盘片之间，在寿命上也存在着显著的差异。与高质量记录用的盘片相比，初始质量低劣的盘片其衰变速度要快得多。初始质量低劣的盘片没有足够的余量，来保证在下一次按计划检查之前，差错不会达到无法恢复的水平，而对于存档盘片来说，就是要避免出现这样的情况。这意味初始记录质量高且终生维持这一状态的盘片，可望具有很长的寿命。嵌人盘片并被驱动器利用的功能强大的循环冗余校验(CRC)纠错系统，能够掩盖衰变的存在。在缺少驱动器标准的情况下，能性不允许用户以简单的方式来验证特定盘片上记录信息的质量。本标准规定的质量控制策略，能够无损地识别衰变，以便于用户采取及时和有效的纠正措施。興尚理览Z.ZC.E1
GB/T30542-2014文件管理130mm光盘存储信息的监测和验证1范围本标准规定了确定记录介质上数据质量的测试方法，并提供了规范，终端用户机构能够按这些规范来监测数据质量，并监测是否一直符合驱动器和（或）介质制造厂家为其级别所确定的误差限度要求。本标准界定了生产环境中使用的130m光盘的差错率监测能力和监测方法，以确保在光盘的整个预期寿命中数据都可以读出。本标准适用于130mm光盘存储信息的监测和验证。其他规格光盘存储信息的监测和验证可参考执行。2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T20225-2006Z电子成停缸(1S01261:1999,M0D)7C个1二T1S0/1EC11976尸信急技术用30mm可重写和一次写入多次读出超高密度光盘(UD0)进行数据交换容量：60千兆字节每盘第二代[nformation technology一Data interchange on 1.30mmrewritable and write-once-read-many ultra density optical (UDO)disk cartridges-Capacity:60 Gbytesper cartridge-Second generation]ISO/1EC17345信息技术用130mm可重写和一次写入多次读出超高密度光盘(UDO)进行数据交换容量：30千兆字节每盘第一代[Information technology-Data interchange on 130mmrewritable and write once read many ultra density optical (UDO)disk cartridges-Capacity:30Gbytes per cartridge-First generation3术语和定义GB/T20225一2006、ISO/IEC17345和ISO/IEC11976界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1寿命终点end-of life;EOL交换性丧失，导致信息不再能够可靠地检索。4测试方法4.1总则需要使用纠错码纠正光盘不可避免的缺陷以及正常寿命期间的衰变。基于对这一事实的了解，本标准规定了确定记录介质上的数据质量的方法。在写入数据的时候，写人系统宜对数据进行验证。该1理时Z.ZC.NE1
GB/T30542-2014验证过程中，应检查缺陷的程度，而写入系统只应接受需要小比率纠错容量的数据。本标准规定了一种在参考驱动器上阅读光盘时对剩余纠错容量进行分析的方法。此外，应检查光盘的伺服性能，以确定是否已出现任何不合格的光盘畸变。4.2测试驱动器的校准由驱动器制造厂商提供已在经校准的设备上检查过的参考盘及其测试报告。该报告说明在准备用于档案数据扫描的驱动器上扫描时的合格范围。用于盘片质量检测的驱动器都应该用参考盘进行校正。4.3测试参数被扫描的盘片的剩余纠错容量和伺服性能应通过扫描来测量。为了将扫描控制在可管理的时间内，应扫描一定比例的表面。扫描盘片期间，应执行下述操作：a)应对盘片表面进行扫描，以确定被写扇区的位置。b)每10轨用户写入数据至少阅读一轨，并计算每个代码字中的差错数量，以便确保写人扇区内有足够的剩余纠错容量。依据光盘内容的价值，用户可选择扫描100%的数据。c)如果任何受测试扇区内需要用75%以上的纠错容量来恢复有效数据，就应报告该介质处于危险状态，这种情况下，首要措施应是依据制造厂商的说明书来清洁盘片，并为查明缺陷而重新扫描。如果报告同样的差错，宜在测试后2年内将数据迁移。d)应对伺服通道进行监测，以验证灰尘或划伤等造成的缺陷未超过任何允许阈值。相关ISO规范(ISQ刀EC17345S07IEC更976)界定了最大伺服千扰。在这种情况下，首要措施应是依据制造厂商的说明书来清洁盘片，并为查明缺陷而重新扫描。如果报告同样的差错，宜将数据在测试日期后2年内迁移。e)应检查扇区地址，以确保每个扇区至少有一个D字段可以无差错地阅读。如果不是这样的情况，应报告该介质处于危险状态。这种情况下，首要措施应是依据制造厂商的说明书来清洁盘片，并为查明缺陷重新扫描。如果报告同样的差错，宜将数据在测试后2年内迁移。)应检查剩余备用区，以确保重新定位率是合格的。已经使用的允许备用区应不到50%。允许备用区应与用户写人区的百分比成比例地分配。如果不是这种情况，应报告介质处于危险状态。这种情况下，首要措施应是依据制造厂商的说明书来清洁盘片，并为查明缺陷而重新扫描。如果报告同样的差错，宜将数据在测试后2年内迁移。4.4测试设定在测试光盘之前，应使用驱动器制造厂商提供的参考盘对驱动器进行校准。宜检查待测试的光盘插盒是否有损坏之处，但不宜试图清洁盘片表面。一般而言，除非使用正确的材料并按规范来清洁，否则清洁盘片对性能是有害的。只有在光盘无法扫描的情况下，才宜对盘片进行清洁。有关对盘片清洁的议，参见附录A。盘片清洁只宜使用盘片销售商提供的盘片清洁器和清洁液。无论如何，用户不应拆开光盘插盒。4.5程序测试人员应使用一种应用软件，该软件由驱动器制造厂商认可并能够准确地识别经认可的参考盘上的差错，以便通过计算机接连接到计算机的驱动器上，验证经认可的参考盘。测试人员应能够输人一个盘片序列号，该序列号应添加到测试生成的测试文件上。2莲素村网Z.ZC.E
GB/T30542-2014在测试盘片之前，通过检查随测试驱动器提供的参考盘来验证系统。将参考盘插人驱动器，然后执行“系统检查”选项。驱动器应从参考盘读出校准文件，并对识别的扇区进行扫描。扫描的结果应与校准文件进行比对，以确保驱动器正确地识别了有缺陷的扇区。校准检查结束时，测试结果应写在校准盘上，供将来分析。如果驱动器通过了校准检查，则将待查的盘片插入测试驱动器。应用软件应读出制造时写人的独特的盘片D,并应能够将其显示给操作人员。如果这些盘片曾经经过了使用应用软件进行的检查，先前的测试文件应被检索出来，并用于检查数据质量的衰变速度，得到提示后，输入文本说明，该说明添加到测试文件上。执行测试应用软件，扫描盘片的写人扇区。应按4.3规定的百分比阅读这些扇区，并应按下法逐扇区地分析纠错状态：测试应用软件应该用来分析用户数据，并检查每个纠错代码字中的差错数量，以确保有4.3所规定的足够的剩余纠错容量；应按4.3的规定检查嵌入地址信息的质量，以确保可靠的存取，无需实施恢复程序；应按4.3的规定检查伺服通道，以确定焦点和跟踪误差是否超过了盘片规范中允许的限度。测试结束时，应在主计算机上为给定的光盘驱动器写出一份测试文件。基于对扫描期间发现的缺陷所进行的分析，测试应用软件应将光盘状态报告给用户。4.6测试结果的评价如前所述，测试应用软件应自动生成一份测试文件，并推荐需要采取的措施。按4.5的规定执行后，可能产生的结果有以下3种：）网盘片进行请法然后应对盘片再次进行测试，?，J?SCb)数据己到达寿命终点，宜拷贝到新的光盘上。这种结果只有在盘片经过清洁和再次测试后方才报告。这取决于存在连续2份针对有关盘片的文件记录，而该盘片未能达到下述两个指标之一：1)任意代码字尚剩余不足25%的总纠错容量：2)如果检测到超出相关介质规范(1S0/1EC17345、IS0/1EC11976)允许限度的伺服干扰。?)如果1)和2)的情况都没有检测到，应报告数据处于良好状态，无需采取任何措施。注：本评价方法依据已发布的国际标准界定了限度，并重复了4.3中叙述的条件。5差错分类造成光盘上的用户数据出现差错的衰变有以下两大类：a)专业存档用光盘使用强大的纠错编码来确保盘片固有缺陷能够被无差错地纠正。这样，光盘层面上的任何数据差错不会在用户层面上看出来。然而，通过表面污染或者记录层随时间逐渐衰变（参见附录B),缺陷变得严重了，纠错码不再能够无差错地重构源数据。b)另外，盘片的机械完整性可衰变到伺服系统不再能够足够精确地跟踪数据的程度，可发生大的数据丢失。本标准详细说明了一种光盘扫描方法，用以检查这两种衰变机理都没有严重到将要造成用户层面数据无法检索的程度。本标准规定的扫描常规目的是确保正常使用中出现的更多缺陷仍然完全处于标准驱动器的纠错能力之内。顺利通过数据完整性检查的光盘可视为处于良好状态。这意味着记录时使用的写入系统写人了完好的数据，而且没有或几乎没有发生数据衰变。3興尚理Z.ZC.E1
GB/T30542一20146测试频率6.1总则确定光盘存储数据的质量所需要的测试频率，取决于存储环境的性质和所用技术。如果光盘是存储在介质制造厂商推荐的存储条件下，就不宜要求频繁进行检查。如果光盘存储在制造厂商推荐的环境条件下，测试宜每5年进行一次。如果光盘遭遇了异常的环境条件，例如因为系统出现故障而处于异常环境，宜向介质制造厂商提出咨询，6.2130mm光盘存储在自动化图书馆内的130mm光盘，不宜要求频繁进行检查。议每3年对抽样盘片进行一次扫描，以确保系统性能没有受到危害。独立驱动器使用的光盘，其存储条件控制得不够严格，实际检查频率宜取决于对存储环境的控制程度，但对关键的应用，宜至少每2年对抽样盘片进行一次扫描。7衰变的预防存档用的130mm光盘，应存储在介质制造厂商推荐的存储条件下。宜小心避免存储温度和湿度发生急剧变化，尤其是应保持不会冷凝的条件。由其性质所决定，光盘会受到特定污染的影响，因此，专业用途的光盘通常存放在密封的插盒电在通常的环境下，不宜开启插盒。准备长期存档的盘片，不宜遗留在驱动器。共可连凡系灯U.UZ5心.注：有关衰变的详细描述，参见附录B。4興尚理览Z.ZC.NE1
GB/T30542-2014附录A(资料性附录)对超高密度光盘(UDO)的处理、存储和清洁条件的议A.1处理UDO光盘装在一个刚性的保护盒中，该盒的用途是为了保护盘片，使其避免因偶尔跌落或者受到污染而被损坏。处理盘片始终宜小心，宜避免开启介质遮挡片。绝不要触摸盘片表面。避免光盘处于不必要的高温或低温之下。A.2存储对于长期暗存储，存储环境宜限制在表A1给出的范围内。表A.1对长期存储的议范围环境条件对长期存储的议范围温度-10℃-30℃典和筑素才JJ0正绝对湿度1g/m3~30g/m3气压60 kPa~106 kPa温度变化梯度最大15℃/h相对湿度变化梯度最大10%/h光盘盒内或盒上不宜出现冷凝现象。A.3清洁UDO光盘只宜使用介质制造厂家推荐的合格清洁材料和工具进行清洁。用户宜与当地分销商或介质制造商接治。5筑素村网Z.ZC
GB/T30542-2014附录B(资料性附录)超高密度光盘(UDO)衰变的原因B.1衰变UDO光盘技术已经经过了彻底的测试，如果遵守了介质制造厂商对存储和使用的议，没有任何理由认为记录膜会衰变。UDO光盘装在一个有两片遮挡片的插盒内，所以只有在读写的时候，光盘表而才会暴露在外界环境中。这就最大限度地减少了使用期间污染物进人的可能。此外，UD○光盘的表面覆盖了一层硬质膜，以便于清洁和避免划伤，而聚碳酸酯盘基就有可能被划伤。然而，尽管有保护性的盘基和插盒，所有光学介质在使用中其表面还是容易受到污染。B.2盘片结构UDO光盘包括两个同样的盘片，背靠背地粘结在一起，形成一个对称的结构，最大限度地降低了随环境条件变化而可能引起的畸变。用以粘合两个盘片的粘合剂是经过挑选的，可以最大限度地降低粘结过程形成的应力。盘片用一个刚牲的聚碳酸酯插盒保护起来其自的是为了从1,2血高的地方跌落后，任何角部或表面都不会损坏。B.3衰变的原因衰变最可能的原因是出现B1中所说的表面污染。这种污染能使活性层变暗，造成数据信号丢失。此外，尘粒污染可造成驱动器用以保持聚焦和跟踪到要求精度的伺服信号发生瞬变。造成未受控制的污染最常见的原因之一，是不经意地使用了不合乎要求的材料和方法来对盘片进行清洁。由于光盘是装在保护性插盒内的，仅凭简单的查看不一定能够察觉清洁不当。对盘片的清洁只能够依照附录A中列出的方法来进行。和所有光学介质一样，制造期间允许小的缺陷存在。经历了极端环境下长期暴露之后，这些缺陷可变大。有证据表明，缺陷的增长遵循阿伦尼乌斯定律，因此人们用该法来确认UDO光盘的预期寿命。4.5中所说的剩余纠错容量旨在确保盘片在经历了整个预期寿命之后，数据仍然可以读出。B.4衰变的性质操作环境决定了衰变的性质。在图书馆使用光盘的情况下，环境得到很好的控制，然而，独立的驱动器有可能使盘片受到更大范围的污染和极端环境的影响。遗留在未受控存储条件下的盘片尤其会遭遇野蛮使用，或因偶然开启介质遮挡片而加剧污染，这些都是违背介质制造厂商议的。6蜀Z.Z0
GB/T30542-2014B.5衰变的影响光束暗淡加之对伺服信号可能的干扰，可造成到达解码器的数据的信号丢失。尽管纠错代码具有非常高的猝发纠错能力（大于1mm),但大的尘粒可超出纠错能力的范围。筑素前阀ZC.ET
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