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GBT 32872-2016 空间科学照明用LED筛选规范PDF文本

ICS31.080L53中华人民共和国国家标准GB/T32872-2016空间科学照明用LED筛选规范Screening specifications for illumination LEDs in space sciences2016-08-29发布2016-11-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布興尚莲罚素村网Z.ZC.ET
GB/T32872-2016目次前言范围…2规范性引用文件………………13总则……4筛选项目和程序5筛选方法…5.1外观检查25.2参数测量…425.3恒定加速度…25.4粒子碰撞噪声检测25.5密封性检查35.6高温存储5.7温度冲击+4400044440004000000”444440”*年0035.8低温启动5.9温度循环…小……45.10老炼……5.11参数终测…46参数测量和合格判定46.1测量条件46,2测试参数…56.3测试方法6.4合格判定0006附录A(资料性附录)空间科学照明用LED筛选统计表…7筑素荷网Z..ET
GB/T32872-2016前言本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本标准由全国空间科学及其应用标准化技术委员会(SAC/T℃312)归。本标准起草单位：中国科学院上海技术物理研究所。本标准主要起草人：张涛、章美敏、刘石神、顾忠、袁士东、王晨飞。J.NEI莲素村网Z..ET
GB/T32872-2016空间科学照明用LED筛选规范1范围本标准规定了空间科学照明用LED(Light Emitting Diode)筛选项目和程序、筛选方法、参数测量和合格判定。本标准适用于空间科学照明用额定功率1W和1W以上封装的单芯LED的筛选，其他功率级别的LED也可参照执行。2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T24824一2009普通照明用LED模块测试方法GJB128A一1997半导体分立器件试验方法GJB4027军用电子元器件破坏性物理分析方法3总则3.1被筛选器件应按产品规范或技术协议的要求进行参数初测，合格的器件可参加筛选。筛选按规定的项目和程序进行，完成每个项目之后，剔除不合格产品。3.2被筛选器件应逐个编号，并在每次测试时记录测试数据。筛选结束后，应编写筛选统计表，格式参见附录A,器件的参数测试数据可作为筛选报告的附件。3.3测试如有异常，应记录异常的发生时间和器件编号。3.4当筛选剔除率超过20%时，应判批次不合格。当出现功能失效时，应按照GB4027进行失效分析，如属于材料或工艺因素的非偶然性失效也应判批次性不合格。4筛选项目和程序筛选按表1规定的项目和程序进行，完成每个项目之后，剔除不合格产品。表1筛选项目和程序序号筛选项目筛选方法1外观检查见5.12参数测量见5.23恒定加速度见5.34粒子碰撞噪声检测(PND)见5.45密封性检查见5.5理筑素荷网Z..ET
GB/T32872-2016表1（续）序号筛选项目筛选方法6高温存储见5.67温度冲击见5.78低温启动见5.89温度循环见5.9lo老炼见5.1011外观终检见5.112参数终测见5.115筛选方法5.1外观检查常温下，用10倍放大镜检查器件的外观质量，不得存在下列缺陷：a)管壳和管脚锈蚀，根部有明显硬伤；b)透镜破碎、有裂纹，或有气泡、异物；觉韩德5.2参数测量按6.1、6.2和6.3进行参数测量，所测参数应满足产品规范或技术协议的要求。5.3恒定加速度5.3.1筛选条件筛选条件如下：a)恒定加速度：196000m/s2,b)实验方向：Y1向（加速力方向平行于器件主轴，主基座的正方向）：c)持续时间：lmin。5.3.2筛选方法将被筛选器件（不通电）安装于加速度试验架上，筛选方法按照GB128A一1997方法2006的规定。试验结束后，按6.4.2进行合格判定。5.4粒子碰撞噪声检测5.4.1筛选条件在40Hz~250Hz下，峰值加速度为196m/s2。5.4.2筛选方法按GJB128A一19972052条件A进行，适用于空封器件，无空腔的器件可免做。2筑素荷网
GB/T32872-2016试验结束剔除不合格器件后，按6.4.2进行合格判定。5.5密封性检查适用于空封器件，无空腔的器件可免做。内腔体积不大于1cm3用细检漏法，按GJB128A一19971071细检漏条件H1或H2。内腔体积不大于0.3cm3,最大泄漏率5×10-3Pa·cm3/s,内腔体积大于0.3cm3,最大泄漏率5×10-2Pa·cm3/s。内腔体积大于1cm3用粗检漏法，按GJB128A一19971071粗检漏筛选条件C。试验结束剔除不合格器后，按6.4.2进行合格判定。5.6高温存储5.6.1筛选条件储存温度110℃±2℃，保温时间48h。5.6.2筛选方法将被筛选器件（不通电）放人温度为110℃士2℃的试验箱中，存储48h。试验结束后，按6.4.2进行合格判定。5.7温度冲击5.7.1筛选条件J.NE可筛选条件如下：a)气压：常压；b)温度：低温-40℃土2℃，高温85℃±2℃；c)温浸时间：30min;d)转换速率：不小于10℃/min:e)循环次数：5次。5.7.2筛选方法试验过程中器件不通电。试验结束后，按6.4.2进行合格判定。5.8低温启动5.8.1筛选条件筛选条件如下：a)气压：常压；b)温度：一40℃士2℃或产品规范或技术协议规定的最低极限工作温度；c）冷浸时间：大于15min;d)冷启动次数：10次；e)冷启动每次间隔时间为：不小于5min。5.8.2筛选方法将处于不通电状态的被筛选器件放人试验箱中，至少15min。然后给每个器件进行低温启动（通莲素村网Z.ZC.ET
GB/T32872-2016电点亮，持续30s),启动次数为10次，每次间隔时间为5min,启动时器件应能正常点亮。试验结束剔除不合格器后，按6.4.2进行合格判定。5.9温度循环5.9.1筛选条件筛选条件如下：a)高温温度：65℃土2℃；b)低温温度：-40℃士2℃；c)高温保持时间：2h;d)低温保持时间：2h;e)变温速率：不小于5℃/min;f)循环次数：5次。5.9.2筛选方法试验过程中器件通电工作，通电电流为IR=Ipm(Ipm为LED实际使用中的额定工作电流)。试验结束后，按6.4.2进行合格判定。5.10老炼5.10.1筛选条件筛选条件J.NE可a)温度：25℃士5℃；b)老炼时间：240h;c)恒流驱动电流：Ir=Ipm。5.10.2筛选方法器件通电工作，采用恒流驱动，使每个器件为Ir=Ipm,老炼时间为240h。在筛选过程中应监测前向电压。试验结束后，按6.4.2进行合格判定。5.11参数终测所有试验完成后，按6.1、6.2和6.3进行参数终测，所测参数应满足产品规范或技术协议的要求。6参数测量和合格判定6.1测量条件参数测量应在下列环境进行：a)温度：25℃士1℃；b)相对湿度：30%~65%；c)气压：86kPa~l06kPa;d)测试应在稳定状态下进行，稳定状态为在15min内，光通量或光强变化小于0.5%。4理素荷网Z.ZS心
GB/T32872-20166.2测试参数主要测试参数如下：a)正向电压Ve;b)法向光强Iv;c)反向漏电流IR;d)反向击穿电压VR;e)光谱；D色温；g)显色指数；h)光通量；i)热阻。根据使用要求可对测试参数进行删减。6.3测试方法6.3.1正向电压将LED安装于散热结构上，通电电流为I=Ipm,待LED达到稳定状态后，记录壳温，测量LED的正向电压Ve。6.3.2法向光强将LD安装散热结转通电毫流为，7，衔ED达到稳定状态后，尼录光温，测量LED的法向光强Iv。6.3.3反向漏电流施加5V的反向电压，测量器件此时反向漏电流IR,测量电路参见图1。RLED?说明：R一限流电阻；G一电流计。图1LED反向漏电流测量电路6.3.4反向击穿电压用晶体管特性图示仪测量LED的反向击穿电压VR。6.3.5光谱用光谱仪测量光谱。6.3.6光通量按GB/T24824一2009的5.2测量光通量。莲素村网Z.ZC.ET
GB/T32872-20166.3.7色温和显色指数按GB/T24824一2009的5.4测量和计算色温和显色指数。6.3.8热阻可用结温测量法反推热阻。通常用半导体器件瞬态测量仪测热阻。通过瞬间改变LED器件的功率输入，采用采集系统快速测试出LED器件前向电压的变化情况，依据LED器件前向电压与结温的关系曲线以及对温度变化曲线进行数值处理，抽取出结构函数，从结构函数中自动分析出热阻。6.4合格判定6.4.1参数测量和参数终测按6.1、6.2和6.3进行参数测量，所测参数应满足产品规范或技术协议的要求。6.4.2中间试验合格判定除外观检查、参数测量和参数终测外，每项试验结束后，器件在常温下放置2h,然后在24h内测量被筛选器件的正向电压V、法向光强Iv、反向漏电流IR,所测参数应满足产品规范或技术协议的要求。将试验后所测量的参数与筛选前参数初测的器件参数进行对比，变化率满足式(1)~式(3)的器件为合格，剔除不合格器件。|V2-V1≤0.05……………(1)式中：风J.NE可V2一试验后测量的正向电压，单位为伏特(V);Vm一参数初测的正向电压，单位为伏特(V)。Ivz-Iv≤5%…(2)式中：Iv2一试验后测量的法向光强，单位为坎德拉(cd);Iv一参数初测的法向光强，单位为坎德拉(cd)。IR阳-IRu≤100%…………(3)式中：I2一试验后测量的反向漏电流，单位为安培(A);I1一参数初测的反向漏电流，单位为安培(A)。莲素村网Z.ZC.ET
GB/T32872-2016附录A(资料性附录)空间科学照明用LED筛选统计表表A1为空间科学照明用LED筛选统计表。表A.1空间科学照明用LED筛选统计剔除原因别除统计参试器序号筛选项目筛选条件功能参数别除数剔除率件数（件）失效（件）超差（件）(件)(%)1外观检查2参数测量3恒定加速度4粒子碰撞噪声检测(PIND)5密封性检查6高温存储7温度冲击8典链到素种网9温度循环10老炼11外观终检12参数终测总计统计人：填表时间：運筑素村网Z.ZC.ET
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