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GB/T13542.4-2009GB/T13542《电气绝缘用薄膜》分为以下几个部分:一第1部分:定义和一般要求;一第2部分:试验方法;一第3部分:电容器用双轴定向聚丙烯薄膜;——第4部分:聚酯薄膜;本部分为GB/T13542的第4部分。本部分修改采用IEC60674-3-2:1992《电气用塑料薄膜第3部分:单项材料规范第2篇:对电气绝缘用均衡双轴定向聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜的要求》(英文版)。本部分与IEC60674-3-2:1992的主要差异如下:a)增加了25μm和150μm厚度规格的聚酯薄膜;b)增加了对最短段长度的规定;c)增加了规范性引用文件IEC61074:1991《用差示扫描量热法测定电气绝缘材料熔融热、熔点及结晶热、结晶温度的试验方法》;)规定了熔点的具体要求,同时在“6与厚度无关的性能要求”增加了条文说明:熔点可用DSC法,按IEC61074的规定进行,性能值待定;e)分类按国内实际分为1型:6020和6021,2型:6022,)删除了“命名”一章。本部分代替GB12802.2一2004《电气绝缘用薄膜第2部分:电气绝缘用聚酯薄膜》。本部分与GB12802.2一2004相比主要差异:对“拉伸强度和断裂伸长率”在“6.2与厚度有关的性能要求”增加了条文说明:试验无争议时也可采用夹持距离为l00mm,本部分由中国电器工业协会提出。本部分由全国绝缘材料标准化技术委员会(SAC/TC51)归。本部分主要起草单位:桂林电器科学研究所、四川东材科技集团股份有限公司、桂林电力电容器有限责任公司。本部分起草人:王先锋、赵平、李兆林。本部分所代替标准的历次版本发布情况为:—GB13950-1992、GB12802.2-2004.1尚素河网Z..WE1
GB/T13542.4-2009电气绝缘用薄膜第4部分:聚酯薄膜1范围GB/T13542的本部分规定了电气绝缘用聚酯薄膜(以下简称薄膜)的分类和要求。本部分适用于由聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)经铸片及均衡双轴定向而制得的薄膜。2规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T13542的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。GB/T13542.1一2009电气绝缘用薄膜第1部分:一般要求(1EC60674-1:1980,IDT)GB/T13542.2一2009电气绝缘用薄膜第2部分:试验方法(IEC60674-2:1988,MOD)IEC61074:1991用差示扫描量热法测定电气绝缘材料熔融热、熔点及结晶热、结晶温度的试验方法3分类薄膜根据其特性及用途分为两种类型和三种型号,如表1所示。表1薄膜的分类和型号类型型号特性及用途6020般用途的透明薄膜1型6021一般用途的不透明薄膜2型6022电容器介质薄膜4一般要求薄膜应由对苯二甲酸乙二醇酯制成;具有近似均衡取向的双轴定向结构并符合GB/T13542.1一2009中的要求。对于某些应用,可提出在材料中加入添加剂(例如颜料、染料)的要求。但除非另有规定,添加剂应不影响所列出的该型号薄膜的任何性能要求。5尺寸5.1厚度薄膜厚度按GB/T13542.2一2009中第4章的规定进行。薄膜厚度在154m及以下按4.1.2或4.2的规定进行,薄膜厚度在154m以上的按4.1.1或4.2的规定进行。本部分对厚度不作要求,但优选厚度如下:2μm,3μm,3.5μm,5μm,6μm,84m,10μm,12μm,15μm,194m,23μm,254m,36μm,504m,75μm,100μm,1254m,150μm,190μm,250μm,3004m,350μm.除非在供货合同中另有规定,测量的厚度应在标称值士10%范围内。理筑Z.Z0.ET
GB/T13542.4一20095.2宽度薄膜宽度应按GB/T13542.2一2009第6章进行。由于应用情况不同,不可能给出优选的宽度规格,宽度规格由供需双方商定。除了供作槽楔用薄膜规定其宽度小于25mm时可选取用一0.3mm~0mm的偏差外,其他薄膜的宽度偏差应符合GB/T13542.1一2009中5.2的要求。6性能要求6.1与厚度无关的性能要求与厚度无关的性能要求见表2。袅2与厚度无关的性能要求GB/T13542.2-2009要求单位章条号型号6020,6022,1390士10密度kg/m'1和260211400±10熔点≥25622148 Hz~62 Hz2.9~3.417.11相对电容率1 kHz3.2±0.317.111 kHz3.2±0.317.32?48Hz~52Hz≤3X1011kHzU≤6X10-JZ17C1E1介质损耗因数i.11 kHz≤6×10-117.32≥1.0×10“16.11体积电阻率n·m≥1.0×10s16.22≥1.0×10n1表面电阻率n15≥1.0×1042Al21目测法电解腐蚀1和22%21拉伸导线法高温下拉力下≥200241尺寸稳定性压力下≥20025密度采用沉浮法或密度梯度柱法进行测试,浸渍液采用碳化钾的水溶液,取三个测试值为试验结果,保留4位有效数字。本方法仅适用于厚度大于12μm的薄膜。熔点也可用DSC法,按IEC61074的规定进行,性能值待定。相对电容率、介质损耗因数、体积电阻率试验时施加在试样上的交流电场强度不大于10V/μm。根据测试仪器的要求,可采用多层薄膜迭合的方法。试样数为三个。取三个测试值的中值为试验结果。表面电阻率测量条件为23℃,50%RH下经24h暴露后,试验电压对厚度大于10μm者为(100土10)V;对厚度小于104m者为10V。1型根据测试仪器的要求,可采用多层薄膜迭合的方法进行。电化时间为2min。试样数为三个。取三个测试值的中值为试验结果。电解腐蚀拉伸导线法试验条件为40℃,93%RH,暴露周期96h。6.2与厚度有关的性能要求与厚度有关的性能要求见表3。2闐素前网ZC
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