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GB/T15120.2-2012GB/T15120《识别卡记录技术》分为以下几个部分:第1部分:凸印;第2部分:磁条低矫顽力;第3部分:ID-1型卡上凸印字符的位置;第6部分:磁条高矫顽力。本部分为GB/T15120的第2部分。本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本部分代替GB/T15120.2一1994《识别卡记录技术第2部分:磁条》、GB/T15120.4一1994《识别卡记录技术第4部分:只读磁道的第1磁道和第2磁道的位置》和GB/T15120.5一1994《识别卡记录技术第5部分:读写磁道的第3磁道的位置》。鼓励使用者回顾整个标准的修订和更新。本次修订的主要变化如下:a)在GB/T15120.4一1994和GB/T15120.5-1994中给出的要求已经包含在GB/T15120.2的本版本中;b)将术语“主标准”修改为“源标准”;c)增加了部分术语和定义;)增加了部分要球J,NE本部分修改采用1S0/IEC7811-2:2001《识别卡记录技术第2部分:磁条低矫顽力》。本部分与1S0/IEC7811-2:2001相比,存在如下少量差异:a)删除了国际标准前言;b)删除了文本中大部分的英制单位,对于工业界的习惯用法,某些部分的英制单位仍保留;?)根据目前源标准和二极标准的迁移情况,将源标准定义为“一套由德国物理技术研究院(PTB)立,并且目前在美国Q-Card保存的基准卡,代表RM7811-2指定的UR和IR的数值”;将二级标准中的“注”改为“二级标准目前可以从美国Q-Card订购,地址为:301 Reagan Street,Sunbury,PA17801,USA。二极标准源将至少保存到2012年”,d)根据SO/IEC10373-2的最新版本,删除了1ISO/IEC7811-2:2001的附录B“信号幅度测量”.本部分由全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC28)提出。本部分由中国电子技术标准化研究所归。本部分起草单位:中国电子技术标准化研究所、云南南天电子信息产业股份有限公司、中国乐凯胶片集团公司。本部分主要起草人:冯敬、段霞、金倩、高林、耿力、袁理、王文峰、乔申杰。本部分所代替标准的历次版本发布情况为:GB/T15120.2-1994;GB/T15120.4-1994;GB/T15120.5-1994.筑321-标准查询下载网铝罚素村网Z.ZS沁
GB/T15120.2-2012识别卡记录技术第2部分:磁条低矫顽力1范围GB/T15120的本部分是描述在第4章中定义的识别卡的特性和国际交换中使用识别卡的系列标准之一。本部分规定了识别卡上低矫顽力磁条(包括任何保护涂层)的特性、编码技术、编码磁道的位置和字符集。根据人、机两者因素规定了最低要求。矫顽力影响到本部分中许多量值的规定,但本身未作规定。把卡暴露于磁场之中很可能使已记录的数据被破坏。本部分适用于提供卡应遵循的准则。在这些标准中没有考虑使用次数,如果需要,则根据以前卡测试的经验。如果卡不符合规定准则,应在涉及到的各方中进行协商。IS0/IEC10373-2规定了检查卡符合本部分规定参数的测试步骤。注:在本部分中用到的公制和/或英制测量体系中的数值可能已经被换算,但相互间并不完全相等。两种制式都被使用,但两者不宜被混杂或被再转换。最初的设计是使用英制测量体系。2符合性符合本部分的前提条件是符合GB/T14916。当识别卡符合此处规定的所有强制性要求时才能声称符合本部分。如果其他方面未作规定,则使用默认值。3规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T3505产品几何技术规范(GPS)表面结构轮廓法术语、定义及表面结构参数(GB/T3505-2009,ISO4287:1997,IDT)GB/T14916识别卡物理特性(GB/T14916一2006,IS0/IEC7810:2003,IDT)GB/T17554.1识别卡测试方法第1部分:一般特性测试(GB/T17554.1一2006,IS0/IEC10373-1:1998,MOD)ISO/IECl0373-2识别卡测试方法第2部分:带磁条的卡(Identification cards-一Test meth-ods-Part 2:Cards with magnetic stripes)4术语和定义GB/T14916界定的以及下列术语和定义适用于本文件。4.1源标准primary standard一套由德国物理技术研究院(PTB)立,并且目前在美国Q-Card保存的基准卡,代表RM7811-2筑321-标准查询下载网要尚莲罚素村网沁.ET
GB/T15120.2-2012指定的UR和IR的数值。4.2二级标准secondary standardRM7811-2指定的基准卡,它和源标准的关系在与每张卡一起提供的校准证书中说明。注:二级标准目前可以从美国Q-Card订购,地址为:301 Reagan Street,Sunbury,PA17801,USA。二级标准源将至少保存到2020年.,4.3未编码未使用的卡unused un-encoded card具有预期用途所要求的全部组件,未进行过任何个人化或测试操作,并且被保存在清洁的环境中,在5℃~30℃的温度和10%~90%的湿度条件下并且暴露在日光下的时间不超过48h,也未遭受过热力冲击的卡。4.4已编码未使用的卡unused encoded card根据4.3,为了将来的应用,只是进行了数据编码(例如磁条编码、凸印、电子编码)的卡。4.5返回的卡returned card根据4.4,在它被发放给持卡人后为了测试的目的又被返回的卡。4.6磁通翻转flux transition磁化距离变率歌的壁置筑J.NE可4.7基准电流reference currentIx在给定测试条件下的最小记录电流幅度,它使得基准卡上在密度为每毫米8次磁通翻转的情况下,读出的信号幅度为基准信号幅度U.的80%,见图6。4.8基准磁通水平'reference flux levelFR与基准电流IR相对应的测试磁头内的磁通水平。4.9测试记录电流test recording currents两个记录电流定义如下:Im=对应于3.5倍FR的记录电流;I=对应于5.0倍F.的记录电流。4.10单个信号幅度individual signal amplitudeU.单个读出电压信号的基峰值幅度。4.11平均信号幅度average signal amplitudeUA2筑321--标准查询下载网興尚莲罚素村网Z.JZ沁.ET
GB/T15120.2-20126.1.2磁条区域的高度磁条区域相对于相邻卡表面的垂直偏差(h)应为:-0.005mm≤h≤0.038mm在烫印时由“溢出”材料导致的表面轮廓中的尖峰不是磁条的一部分,但它仍不应超出上面所定义的磁条区域高度(h)。6.2表面粗糙度磁条区域内的平均表面粗糙度(Ra)在纵向和横向都应不超过0.40μm。参考GB/T3505.6.3磁条与卡的粘合在正常使用的情况下,磁条不应与卡分离。6.4读/写磁头对磁条的磨损在经历2000次磁头磨损的前后,测量出的平均信号幅度(U)和单个信号幅度(U,)应满足如下条件:UA扇损后≥0.60UA路损前和U蹄损后≥0.80UA清银后6.5耐化学性曲当津育麦.7,70短时间曝露于在GB/T17554.1中定义的化学条件环境的前后,测量出的平均信号幅度(Ua)和单个信号幅度(U)应满足如下条件:UA幕后≥0.90UA得R前和U诗露后≥0.90UA露后长时间(24h)曝露于在GB/T17554.1中定义的模拟人体排汗酸碱度环境的前后,测量出的平均信号幅度(U)和单个信号幅度(U)应满足如下条件:UA霉后≥0.90UA前和Ui得屏后≥0.90UA等每后7磁性材料的性能特性本章的主要目的是使卡和处理系统间具有磁的可交换性,不规定磁介质的矫顽力。7.3中规定的磁介质的性能标准不考虑矫顽力大小。7.1总则本方法采用的磁性材料的性能特性源于源标准的基准卡(见第4章)。所有使用二级基准卡得到的信号幅度结果必须使用随卡提供的因子进行校正。7.2测试和操作环境信号幅度测量的测试环境温度为23℃土3℃,相对湿度为40%~60%。在其他相同条件下测试时,卡在如下操作环境范围内曝露5min后,从密度为8ft/mm(200ftpi)的磁条上测量到的平均信号幅度不能偏离在上述测试环境下其值的15%以上:温度为-35℃~50℃;相对湿度为5%~95%。6筑321.-标准查询下载网興尚罚素衬网Z.ZC.ET
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