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GBT 5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料PDF文本

ICS31-030L90中华人民共和国国家标准GB/T5593-2015代替GB/T5593-1996电子元器件结构陶瓷材料Structure ceramic materials used in electronic筑絮9防ng2015-05-15发布2016-01-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布罚素衬网JZZC.ET
GB/T5593-2015前言本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本标准代替GB/T5593一1996《电子元器件结构陶瓷材料》。本标准与GB/T5593一1996相比，主要有下列变化：一表1中作如下修改：对A-95、A-99增加了硬度性能要求；增加了测试A-95、A-99硬度方法的规范性附录A;B-97替代B95;B97、B-99两者BO组分含量均为最低值；“单位与符号”改为“单位”；线膨胀系数单位/℃改为K1;晶粒大小μ改为μm;A-95的晶粒大小从15μm~30m改为8um~204m;B9720℃~500℃线膨胀系数7~8改为7.0~8.5；B-97,B-99中平均晶粒大小改为12um~30μm;B-97中导热系数20℃改为200W/(m·K),100℃改为160W/(m·K);B-99中导热系数20℃改为230W/(m·K),100℃改为180W/(m·K);-5.8抗热震性的测定持续时间从30min改为l0min;表2中作如下修改：部分测试样品尺寸，将氧化铝瓷和氧化铍瓷分别对待；气密性样品厚度从0.25mm士0.02mm改为0.30mm士0.02mm。请注意本文件的某些内容可能涉及专利，本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本标准由中华久民共和国工亚和信息化部提本标准由中国电子技术标准化研究院归。本标准起草单位：中国电子科技集团公司第十二研究所、湖南新化鑫星电子陶瓷有限公司、江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司、河南济源兄弟材料有限公司、浙江绍兴富尔全瓷业有限公司、浙江温岭特种陶瓷厂。本标准主要起草人：高陇桥、曹培福、高永泉、黄国立、王立夫、徐正平、李晓英。本标准所代替标准的历次版本发布情况为：-GB5593-1985、GB/T5593-1996.興尚理览Z.ZC.E1
GB/T5593-2015电子元器件结构陶瓷材料1范围本标准规定了电子元器件结构陶瓷的种类、级别、技术指标要求、试验方法和检验规则。本标准适用于电子元器件用结构陶瓷材料。2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡儿是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T1031一1995表面粗糙度参数及其数值GB/T1966多孔陶瓷显气孔率、容重试验方法GB/T2413压电陶瓷材料体积密度测量方法GB/T2421.1电工电子产品环境试验概述和指南GB/T5594.1电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法气密性测试方法GB/T5594.2电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量泊松比测试方法GB/T55943电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分：平均线膨胀系数测试方法GB/T559约电子元件啊陶资桃料性能到试方法第4部分介电常数相介质损耗角正切值的测试方法三子.1GB/T55945电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法GB/T5594.6电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第6部分：化学稳定性测试方法GB/T5594电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第？部分：透液性测定方法GB/T5594.8电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分：显微结构测定方法GB/T5597固体电介质微波复介电常数测定方法GB/T5598氧化铍瓷导热系数测定方法GB/T9530-1988电子陶瓷名词术语JJG151-2006金属维氏硬度计检定规程SJ/T10760-1996电子器件结构陶瓷材料的名称和牌号的命名方法3术语和定义GB/T9530一1988界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1电子陶瓷electronic ceramics在电子技术中用于制造电子元件和器件的陶瓷材料，一般可分为结构陶瓷和功能陶瓷。3.2莫来石瓷mullite ceramics以莫来石(3A2O3·2SiO2)为主晶相、钡长石、与钙长石为玻璃相的陶瓷。其特点是介质损耗角正切值较一般长石质瓷小，绝缘电阻率高，抗电强度高，并具有较好的机械强度。主要用于制造电阻瓷基体。3.3滑石瓷steatite ceramics以原顽辉石为(MgSO3)为主晶相的陶瓷。其特点是具有较高的机械强度，较低的介质损耗角和高的绝缘电阻率，热稳定性较差。1览素村网Z.Z沁
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